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GB/T 6672薄膜測厚儀:接觸式測厚原理與操作方法探索

更新時(shí)間:2025-09-01      點(diǎn)擊次數:106

  本信息由濟南蘭光機電技術(shù)有限公司發(fā)布提供。

  薄膜測厚儀,即一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,又可稱(chēng)為薄膜厚度儀、薄膜厚度測量?jì)x等,專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量??蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機,更加準確、高效的進(jìn)行連續多點(diǎn)測量。

  GB/T 6672薄膜測厚儀的接觸式測厚原理主要通過(guò)機械接觸的方式實(shí)現薄膜厚度的測量。其核心在于利用測量頭(感應頭、壓腳)與薄膜表面的接觸,通過(guò)測量頭的位移變化來(lái)推算出薄膜的厚度。具體來(lái)說(shuō),測量頭在接觸到薄膜表面時(shí),會(huì )由于薄膜的彈性變形而產(chǎn)生一定的位移,這個(gè)位移量就是薄膜厚度的直接反映。通過(guò)高精度的位移傳感器,可以精確測量出這個(gè)位移量,從而得到薄膜的厚度值。

  此外,接觸式測厚原理還涉及到一些關(guān)鍵的結構和部件,如測量傳感器(位移傳感器)、設備砧板等。在測量過(guò)程中,測量頭首先落在設備砧板上,傳感器讀取此時(shí)的初始位移值;然后抬起測量頭,將試樣放置在砧板上;最后再次讓測量頭以同樣的壓力落在試樣上,傳感器讀取此時(shí)的位移值。兩次位移值之差即為試樣的厚度值。

  使用GB/T 6672薄膜測厚儀進(jìn)行厚度測量時(shí),通常遵循以下步驟,在此,我們以L(fǎng)abthink公司的CHY-C2A型號測厚儀為例介紹:

  1、打開(kāi)儀器和顯示器:首先,打開(kāi)薄膜測厚儀的電源開(kāi)關(guān)和顯示器,進(jìn)入操作軟件主界面。

  2、清潔測量面:使用“脫脂酒精棉球"將測量面、下砧鐵及周?chē)潦酶蓛舨⒘栏?,以確保測量的準確性。

  3、試樣制備:按照GB/T 6672標準的要求制備試樣。試樣應在溫度23±2℃、濕度50±10%RH的環(huán)境條件下至少放置1小時(shí),以達到穩定狀態(tài)。

  4、放置試樣:將試樣放置在取樣墊上,用鋒利的壁紙刀在距樣品縱向端部大約1m處,沿橫向整個(gè)寬度截取試樣,試樣寬度通常為100mm。

  5、參數設置:在操作軟件界面上進(jìn)行參數設置,包括測量壓力、測量速度、接觸面積等,設置完成后點(diǎn)擊“提交"按鈕。

  6、儀器預熱:點(diǎn)擊試驗控制中的“預熱"按鈕,儀器將自動(dòng)預熱至設定時(shí)間后自動(dòng)停止。預熱可以確保儀器在測量過(guò)程中處于穩定狀態(tài)。

  7、開(kāi)始測量:點(diǎn)擊“自動(dòng)試驗"按鈕,將試樣放到測量頭的下砧鐵上,點(diǎn)擊“放樣確認"按鈕。儀器將自動(dòng)進(jìn)行測試,并實(shí)時(shí)顯示測量結果。

  8、結束測量與數據處理:當達到設定的測量點(diǎn)數時(shí),測量結束。此時(shí)可以保存測量結果并進(jìn)行數據處理和分析。

  綜上所述,GB/T 6672薄膜測厚儀的接觸式測厚原理具有測量準確度高、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn),適用于各種單層薄膜材料或紙張等平面材料的厚度測量。在使用時(shí),需要注意選擇合適的測量頭、保持測量面清潔、遵循標準操作以及定期校準儀器等事項,以確保測量結果的準確性和可靠性。

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